Die Leitfähigkeitsmessgeräte von Mitsubishi Chemical Analytech bieten Ihnen die Möglichkeit der leichten Resitivitätskorrekturfaktor-Berechnung zur Messung des spezifischen Widerstandes.

Mit den Geräten Hiresta-UX, Loresta-GX und Loresta-AX ist eine akkurate Messung des spezifischen Oberflächenwiderstand und Volumenwiderstandes möglich.

 

Spezifische elektrische Größen haben große Bedeutung in der Industrie und Technik. Sie dienen der Charakterisierung verschiedener Werkstoffe und deren Einteilung in bestimmte Rubriken, wie Isolatoren, Halbleiter oder Leiter. Diese Größen sind unabhängig von Form und Abmessungen des betreffenden Objekts und beschreiben somit ein eindeutiges Qualitätsmerkmal.

Volumenwiderstand

Der Volumenwiderstand (Ω・cm) ist der Widerstand pro Volumeneinheit und trägt verschiedene Namen, je nach wissenschaftlichem Anwendungsbereich. Beispielsweise der spezifische Volumenwiderstand in der Werkstoffkunde, der spezifische Widerstand in der Elektrotechnik, die Widerstandsfähigkeit in der Physik, etc. Diese physikalische Größe ist spezifisch für eine Substanz (aufgelistet in wissenschaftlichen Tabellenbüchern), und dient als absolutes Maß für die Leitfähigkeit vieler Materialien.

Oberflächenwiderstand

Der Oberflächenwiderstand hingegen (Ω/□,Ω/sq.) ist der Widerstand pro Flächeneinheit, auch bezeichnet als Plattenwiderstand und findet Anwendung im Bereich der Beschichtung, Isolation, etc.

Messmethoden

Diese können nach zwei verschiedenen Messverfahren bestimmt werden. Der 4-Punkt- und der Ringelektroden-Messmethode.
4 Punkt Messkopf Messung Oberflächenwiederstand   Ringelektrodenmesskopf

 

Beide Verfahren sind verbreitete Methoden zur Objektcharakterisierung. Die 4-Punkt-Messmethode wurde 1954 erstmals von L.B. Valdes, zur Messung von Halbleitern beschrieben. 1957 wurden seine Aufzeichnungen von F.M. Smits im Hinblick auf die Korrekturfaktoren zur Bestimmung der spezifischen Größen erweitert. Anschließend folgten weitere Ergänzungen zu diversen Spezialfällen (beispielsweise Halbkreisförmige Muster). In diesen Arbeiten wurden grundsätzlich stark idealisierte Objekte beschrieben und vermessen. Meist rechteckige oder kreisförmige Muster. Die Messposition lag vorzugsweise in der Mitte des Musters bzw. an Stellen, die eine einfache Korrektur der elektrischen Größe erlauben. Für diese idealisierten Objekte wurde ein allgemeingültiger Korrekturfaktor entwickelt mit dem die spezifischen Größen aus dem elektrischen Widerstand bestimmt werden können. Diese Korrektur ist notwendig, da sich das elektrische Feld, je nach Geometrie der Probe bzw. Messposition verändert.

Die Leitfähigkeitsmessgeräte der Firma Mitsubishi Chemical Analytech arbeiten grundsätzlich auf Basis der beiden Messmethoden, jedoch mit wesentlich komplexeren Korrekturfaktoren, die eine Korrektur der spezifischen Größen auf Mustern unterschiedlicher Abmessungen, mit frei wählbaren Messpositionen erlaubt. Dies gestattet eine vielseitige Verwendung in unterschiedlichen Bereichen der Industrie.

Präzisere Messung durch 4-Pol-Messköpfe

Durch den 4-Pol-Messkopf bzw. dem Ringelektroden-Messkopf der Messgeräte werden Leitungs- und Steckverbindungswiderstände sowie Übergangswiderstände eliminiert. Im Gegensatz zur weitverbreiteten 2-Pol Messung werden dadurch wesentliche präzisere Widerstandsmessungen erzielt.

Großer Messbereich

Mit den Geräten Hiresta UX, Loresta-GX und Lorsta-AX ist eine akurate Messung des spezifischen Oberflächenwiderstand und Volumenwiderstandes möglich. Die Hiresta Serie bedient dabei den hochohmigen Bereich (103-1014Ω), die Loresta Serie den niederohmigen (10-4-107Ω). Ergänzt werden diese Systeme durch das Powder Resistivity System für die Messung der Leitfähigkeit von Pulver.

Jedes Material hat einen eindeutigen spezifischen Widerstand

Als exklusiver Vertreter von Mitsubishi Chemical Analytech im deutschsprachigen Raum bieten wir Ihnen eine umfassende Beratung und den entsprechenden technischen Support an. Bitte kontaktieren Sie uns.