Loresta-GX-Leitfähigkeitsmessgerät-Niederohmig
Leitfähigkeitsmessgerät Loresta GX für den niederohmigen Widerstandsbereich

 

BeschreibungAnwendungSpezifikationZubehörMessbeispieleVideo

Das Loresta GX  wird zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich eingesetzt.

Messbereich: 10-4 – 107 Ω  

Es dient zur Messung im niederohmigen Bereich:

  • des spezifischen Flächenwiderstandes (Ω/□)
  • des spezifischen Volumenwiderstandes (Ω·cm)
  • der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit (S/cm)

 

Das Messgerät arbeitet nach der 4-Punkt-Messmethode. Die Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren und wurde entwickelt um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren. Basis hierfür sind zwei quasi voneinander getrennte Stromkreise.

Der erste Stromkreis beinhaltet eine Konstantstromquelle, dessen Strom durch die Kontaktwiderstände und den gesuchten Widerstand Rx geführt wird. Der zweite Stromkreis beinhaltet eine Spannungsmesseinrichtung, dessen Innenwiderstand groß genug sein muss, damit kein Strom in diesen Kreis gelangt. Mit diesem Messgerät wird die Spannung am Widerstand Rx gemessen, die Kontaktwiderstände r1, r2 nehmen somit keinen Einfluss.

Daher verfügt die Loresta Serie über 4-Pin Messköpfe. Diese eliminieren Leitungs- und Steckverbindungswiderstände, sowie Übergangswiderstände. Wesentliche präzisere Widerstandsmessungen werden dadurch erzielt.

Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander. Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die beiden äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom. Die beiden inneren Elektroden greifen die Spannung an der Oberfläche der Probe ab. Somit kann der elektrische Widerstand bestimmt werden.

Das LORESTA GX stellt sowohl den spezifischen Volumenwiderstand, als auch den spezifischen Flächenwiderstand dar. Die spezifischen Widerstände ergeben sich durch die Verwendung des Korrekturfaktors und der Dicke der Musterprobe. Das LORESTA GX hat eine eingebaute Software, die diesen Korrekturfaktor berechnet. Sie ist imstande den Faktor durch Eingabe der Messobjekt Daten, Form (Rechteck oder Scheibe) und Abmessungen sowie der Messposition abzuleiten.

Ein farbiges 7.5“ TFT LC-Touch Display erleichtert das Ablesen der Daten und die Menüführung. Zudem können die Daten über die USB Schnittstelle auf einem PC übertragen werden. Durch die automatischen Messmodi Auto-Hold und Timer-Modus ist eine komfortable One-Touch Bedienung möglich. Die angelegte Spannung kann selektiv gewählt werden, so dass auch Messungen von Materialien mit einer geringen Leitfähigkeit möglich sind. Zusätzlich verfügt das Loresta-GX über einen Modus mit dem Messungen von Silizium Wafern möglich sind.

Erhältlich sind verschiedene Typen von Messköpfen, die je nach Beschaffenheit des Messobjektes eingesetzt werden können.

 

Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle

Für Messungen angelehnt an die ASTM D 991, ISO 2878,  ISO 1853, JIS K 7194, JIS R 1637 Norm

  • Farben, Pasten, Lacke, Druckerfarbe
  • Fasern, Textilien, Smart Textiles
  • Kunststoffe, Elektrisch leitfähige Kunststoffe z.B. Polyethylen (PE), Polypropylen (PP)
  • Polymere, Gummi, Silikon
  • Filmmaterialien
  • metallische dünne Filme, metallbedampfte Folien
  • Widerstandspasten
  • amorphes Silizium / Silizium Wafer
  • antistatische Materialien
  • EMV-Schirmungsmaterialien
  • ITO Glas, beschichtetes Glas
  • passivierte Metalle
  • Magnesiumlegierungen
  • Beschichtetes Blech, Stahl, Aluminium
  • Graphite
  • etc.

 

ArtikelnummerLoresta-GX MCP-T700
Messmethode 4-Punkt-Messmethode, Konstantstrom-Methode
Messbereich10-4 - 107 Ω x cm
Messmodus Auto-Funktion: Auto-Hold / Timer Mode - Spezieller Silicone Mode
Display 7.5" TFT LC-Touch Display, 640 x 480 Pixel
Spannungsversorgung AC 85-264V / 47-63Hz / 40VA
Schnittstelle für Datenausgabe USB
Abmessung 320mm x 285mm x 110mm (B x T x H)
Gewicht 2,4 kg
Lieferumfang ASP Messkopf RMH110
Messkopfprüfer RMH304 (1.0Ω)
Bedienungsanleitung

 

Messbereich & Messgenauigkeit

Stromversorgung
Range 1A 100mA 10mA 1mA 100μA 10μA 1μA 0.1μA
10-4 ±(2.0% + 30dgt)
10-3 ±(2.0% + 20dgt) ±(2.0% + 20dgt)
10-2 ±(1.0% + 5dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
10-1 ±(1.0% + 3dgt) ±(1.0% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
100 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
101 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
102 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
103 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
104 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt)
105 ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 3dgt)
106 ±(1.0% + 3dgt)
107 ±(2.0% + 5dgt)

Messköpfe

BildMesskopfAnwendungPinabstand Pinspitze ØFederdruck Messkopfprüfer
ASP Messkopf RMH110 - StandardASP Messkopf
RMH110
Standardzubehör 5.0 mm 0.37 mm 210 g/pin RMH304
ESP Messkopf RMH114 für ungleichförmige ProbenESP Messkopf
RMH114
ungleichförmige Proben 5.0 mm 2 mm240 g/pinRMH304
LSP Messkopf RMH116  für weiche OberflächenLSP Messkopf
RMH116
weiche Oberflächen 5.0 mm 2 mm130 g/pin RMH304
TFP Messkopf RMH217 für dünne FilmeTFP Messkopf
RMJ217
dünne Filme 1.0 mm0.15 mm50 g/pinRMH312
QP 2 Messkopf RMH115 für kleinste ProbenQP2 Messkopf
RMH115
kleinste Proben 1.5 mm 0.26 mm70 g/pin
PSP Messkopf  RMH 112für kleine und dünne ProbenPSP Messkopf
RMH112
kleine & dünne Proben 1.5 mm 0.26 mm70 g/pinRMH311
BSP Messkopf RMH111 für große ProbenBSP Messkopf
RMH111
große Proben 2.2 mm0.37 mm 210 g/pin
NSCP Messkopf RMJ202 für harte OberflächenNSCP Messkopf
RMJ202
harte Oberflächen
Siliziumwafer
1.0 mm 0.04 mm250 g/pinRMH312

 

 

UFL Table (RMJ 354)

Isolierender Untergrund für die Hiresta und Loresta Serie mit 2 Wende-Oberflächen (Metalloberfläche / Teflon beschichtete Oberfläche) zur Messung des Volumenwiderstand. Die Metalloberfläche aus Edelstahl dient als zweite Elektrode.

UFL TableUFL TableUFL Table

BildMessungMessgerätMesskopf
Kunststoff mit Aluminium BeschichtungABS Kunststoff mit Aluminium Beschichtung

Messung der elektrischen Leitfähigkeit
Loresta-GXASP Messkopf
Beschichtete Aluminiumfolien

Messung der elektrischen Leitfähigkeit bei unterschiedlichen Beschichtungen
Loresta-GXASP Messkopf
Leitfähige Gummiplatten PVC-Compounds

Messung der elektrischen Leitfähigkeit
Loresta-GXASP Messkopf
KohlenstoffvliesKohlenstofffaser Gewebe

Messung der elektrischen Leitfähigkeit
Loresta-GXASP Messkopf
Gedruckte Leiterbahnen

Messung der elektrischen Leitfähigkeit von gedruckten, elektronischen Leiterbahnen auf Textilgeweben
Loresta-GXLSP Messkopf
PU Klebemasse
Messung der elektrischen Leitfähigkeit einer ausgehärteten Polyurethan Klebemasse
Loresta-GXLSP Messkopf