Messbeispiele
Hier zeigen wir Ihnen eine Auswahl an durchgeführten Messproben mit unseren Leitfähigkeitsmessgeräten Hiresta-UX und Loresta-GX. Bei Interesse an einer Probenmessung ihres Materials, können Sie uns jederzeit gerne kontaktieren.
Akkurate Messung des spezifischen Oberflächenwiderstand und Volumenwiderstand.
Hiresta UX, Loresta-GX und Loresta-AX von Nittoseiko Analytech
Die Leitfähigkeitsmessgeräte von Nittoseiko Analytech bieten eine einfache und präzise Messung des spezifischen Widerstandes.
Echzeit-Messgerät zur Messung von Halbleitern bzw. Nichtleitern (Isolatoren) mit einem erweiterten Messbereich von 103-1014Ω
Echtzeit-Messgerät zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich 10-4-107Ω.
Erstmalig waren wir auf der LAB Supply in Leverkusen am 15. November 2023 vertreten und möchten uns bei allen Besuchern für ihr Interesse an unseren Messgeräten zur Leitfähigkeitsmessung und Pulvermessung …
Das Pulvermesssystem PD-600 ist die Weiterentwicklung des PD-51 und ermöglicht die physikalischen Eigenschaften von Pulver über den spezifischen Widerstand unter kontrolliertem Druck bis zu 20kN zu bestimmen. Dabei besteht …
Wir bieten ihnen die Messung Ihrer Proben auch als Dienstleistung an. Sie erhalten zu jeder Messung einen ausführlichen Prüfbericht. Die Preise für eine Probenmessung staffeln sich nach der Menge der …
Hier zeigen wir Ihnen eine Auswahl an durchgeführten Messproben mit unseren Leitfähigkeitsmessgeräten Hiresta-UX und Loresta-GX. Bei Interesse an einer Probenmessung ihres Materials, können Sie uns jederzeit gerne kontaktieren.
Zur Messung von Halbleitern im oberen Widerstandsbereich und Nichtleitern bzw. Isolatoren (ab 104 Ωxcm) arbeitet man mit Messköpfen, welche mit konzentrischen Ringelektroden ausgestattet sind. Bei der Messung großer Widerstände (Richtwert …
Das Multimeter (mit 2 Messspitzen) ist in der Regel ein günstiges und einfaches Gerät zur Spannungs-, Strom- und Widerstandsmessung. Jedoch ist die konventionelle 2-Punkt-Methode für eine Materialbewertung, aufgrund von störenden …