Das Loresta GX wird zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich eingesetzt.
Messbereich: 10-4 – 107 Ω x cm.
Es dient zur Messung im niederohmigen Bereich:
- des spezifischen Flächenwiderstandes (Ω/□)
- des spezifischen Volumenwiderstandes (Ω·cm)
- der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit (S/cm)
Das Messgerät arbeitet nach der 4-Punkt-Messmethode.
Die Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren und wurde entwickelt um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren.
Die Messköpfe bestehen aus vier nadelähnliche Elektroden. Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander.
Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die beiden äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom. Die beiden inneren Elektroden greifen die Spannung an der Oberfläche der Probe ab. Somit kann der elektrische Widerstand bestimmt werden.
Die spezifischen Widerstände ergeben sich durch Anwendung des Korrekturfaktors und Einbeziehung der Dicke der Musterprobe.
Das Loresta-GX verfügt über einen Modus mit dem Messungen von Silizium Wafern möglich sind.
Ein farbiges 7.5“ TFT LC-Touch Display erleichtert das Ablesen der Daten und die Menüführung. Zudem können die Daten über die USB Schnittstelle auf einem PC übertragen werden.
Durch die automatischen Messmodi Auto-Hold und Timer-Modus ist eine komfortable One-Touch Bedienung möglich.
Die angelegte Spannung kann selektiv gewählt werden, so dass auch Messungen von Materialien mit einer geringen Leitfähigkeit möglich sind.
Erhältlich sind verschiedene Typen von Messköpfen, die je nach Beschaffenheit des Messobjektes eingesetzt werden können.
Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle
Für Messungen angelehnt an die ASTM D 991, ISO 2878, ISO 1853, JIS K 7194, JIS R 1637 Norm
- Farben, Pasten, Lacke, Druckerfarbe
- Fasern, Textilien, Smart Textiles
- Kunststoffe, Elektrisch leitfähige Kunststoffe z.B. Polyethylen (PE), Polypropylen (PP)
- Polymere, Gummi, Silikon
- Filmmaterialien
- metallische dünne Filme, metallbedampfte Folien
- Widerstandspasten
- amorphes Silizium / Silizium Wafer
- antistatische Materialien
- EMV-Schirmungsmaterialien
- ITO Glas, beschichtetes Glas
- passivierte Metalle
- Magnesiumlegierungen
- Beschichtetes Blech, Stahl, Aluminium
- Graphite
- etc.
| Artikelnummer | Loresta-GX MCP-T700 |
| Messmethode | 4-Punkt-Messmethode, Konstantstrom-Methode |
| Messbereich | 10-4 - 107 Ω x cm |
| Messmodus | Auto-Funktion: Auto-Hold / Timer Mode - Spezieller Silicone Mode |
| Display | 7.5" TFT LC-Touch Display, 640 x 480 Pixel |
| Spannungsversorgung | AC 85-264V / 47-63Hz / 40VA |
| Schnittstelle für Datenausgabe | USB |
| Abmessung | 320mm x 285mm x 110mm (B x T x H) |
| Gewicht | 2,4 kg |
| Lieferumfang | ASP Messkopf RMH110 |
| Messkopfprüfer RMH304 (1.0Ω) | |
| Bedienungsanleitung |
Messbereich & Messgenauigkeit
| Stromversorgung | ||||||||
| Range | 1A | 100mA | 10mA | 1mA | 100μA | 10μA | 1μA | 0.1μA |
| 10-4 | ±(2.0% + 30dgt) | |||||||
| 10-3 | ±(2.0% + 20dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||||
| 10-2 | ±(1.0% + 5dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | |||||
| 10-1 | ±(1.0% + 3dgt) | ±(1.0% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 100 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 101 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 102 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 103 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 104 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | |||||
| 105 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 3dgt) | ||||||
| 106 | ±(1.0% + 3dgt) | |||||||
| 107 | ±(2.0% + 5dgt) |
Messköpfe
| Bild | Messkopf | Anwendung | Pinabstand | Pinspitze Ø | Federdruck | Messkopfprüfer |
 | ASP Messkopf RMH110 | Standardzubehör | 5.0 mm | 0.37 mm | 210 g/pin | RMH304 |
| ESP Messkopf RMH114 | ungleichförmige Proben | 5.0 mm | 2 mm | 240 g/pin | RMH304 |
| LSP Messkopf RMH116 | weiche Oberflächen | 5.0 mm | 2 mm | 130 g/pin | RMH304 |
| TFP Messkopf RMJ217 | dünne Filme | 1.0 mm | 0.15 mm | 50 g/pin | RMH312 |
| QP2 Messkopf RMH115 | kleinste Proben | 1.5 mm | 0.26 mm | 70 g/pin | |
| PSP Messkopf RMH112 | kleine & dünne Proben | 1.5 mm | 0.26 mm | 70 g/pin | RMH311 |
| BSP Messkopf RMH111 | große Proben | 2.2 mm | 0.37 mm | 210 g/pin | |
| NSCP Messkopf RMJ202 | harte Oberflächen Siliziumwafer | 1.0 mm | 0.04 mm | 250 g/pin | RMH312 |
UFL Table (RMJ 354)
Isolierender Untergrund für die Hiresta und Loresta Serie mit 2 Wende-Oberflächen (Metalloberfläche / Teflon beschichtete Oberfläche) zur Messung des Volumenwiderstand. Die Metalloberfläche aus Edelstahl dient als zweite Elektrode.
| Bild | Messung | Messgerät | Messkopf |
|---|---|---|---|
| ABS Kunststoff mit Aluminium Beschichtung Messung der elektrischen Leitfähigkeit | Loresta-GX | ASP Messkopf |
| Beschichtete Aluminiumfolien Messung der elektrischen Leitfähigkeit bei unterschiedlichen Beschichtungen | Loresta-GX | ASP Messkopf |
| | PVC-Compounds Messung der elektrischen Leitfähigkeit | Loresta-GX | ASP Messkopf |
| Kohlenstofffaser Gewebe Messung der elektrischen Leitfähigkeit | Loresta-GX | ASP Messkopf |
| Gedruckte Leiterbahnen Messung der elektrischen Leitfähigkeit von gedruckten, elektronischen Leiterbahnen auf Textilgeweben | Loresta-GX | LSP Messkopf |
| PU Klebemasse Messung der elektrischen Leitfähigkeit einer ausgehärteten Polyurethan Klebemasse | Loresta-GX | LSP Messkopf |