Leitfähigkeitsmessgerät Loresta GX für den niederohmigen Widerstandsbereich
Leitfähigkeitsmessgerät Loresta GX für den niederohmigen Widerstandsbereich

 

Das Loresta GX  wird zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich eingesetzt.

Messbereich: 10-4 - 107 Ω x cm.  

Es dient zur Messung im niederohmigen Bereich:

  • des spezifischen Flächenwiderstandes (Ω/□)
  • des spezifischen Volumenwiderstandes (Ω·cm)
  • der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit (S/cm)

 

Das Messgerät arbeitet nach der 4-Punkt-Messmethode.

Die Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren und wurde entwickelt um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren. 

Die Messköpfe bestehen aus vier nadelähnliche Elektroden. Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander.

Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die beiden äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom. Die beiden inneren Elektroden greifen die Spannung an der Oberfläche der Probe ab. Somit kann der elektrische Widerstand bestimmt werden.

Die spezifischen Widerstände ergeben sich durch Anwendung des Korrekturfaktors und Einbeziehung der Dicke der Musterprobe.

Das Loresta-GX verfügt über einen Modus mit dem Messungen von Silizium Wafern möglich sind.

Ein farbiges 7.5“ TFT LC-Touch Display erleichtert das Ablesen der Daten und die Menüführung. Zudem können die Daten über die USB Schnittstelle auf einem PC übertragen werden.

Durch die automatischen Messmodi Auto-Hold und Timer-Modus ist eine komfortable One-Touch Bedienung möglich.

Die angelegte Spannung kann selektiv gewählt werden, so dass auch Messungen von Materialien mit einer geringen Leitfähigkeit möglich sind.

Erhältlich sind verschiedene Typen von Messköpfen, die je nach Beschaffenheit des Messobjektes eingesetzt werden können.

 

Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle

Für Messungen nach der ASTM D 991, ISO 2878,  ISO 1853, JIS K 7194, JIS R 1637 Norm

 

  • Farben, Pasten, Lacke, Druckerfarbe
  • Fasern, Textilien, Smart Textiles
  • Kunststoffe, Elektrisch leitfähige Kunststoffe z.B. Polyethylen (PE), Polypropylen (PP)
  • Polymere, Gummi, Silikon
  • Filmmaterialien
  • metallische dünne Filme, metallbedampfte Folien
  • Widerstandspasten
  • amorphes Silizium / Silizium Wafer
  • antistatische Materialien
  • EMV-Schirmungsmaterialien
  • ITO Glas, beschichtetes Glas
  • passivierte Metalle
  • Magnesiumlegierungen
  • Beschichtetes Blech, Stahl, Aluminium
  • Graphite
  • etc.

 

Messmethode 4-Punkt-Messmethode, Konstantstrom-Methode
Messbereich10-4 - 107 Ω x cm
Messmodus Auto-Funktion: Auto-Hold / Timer Mode - Spezieller Silicone Mode
Display 7.5" TFT LC-Touch Display, 640 x 480 Pixel
Spannungsversorgung AC 85-264V / 47-63Hz / 40VA
Schnittstelle für Datenausgabe USB
Abmessung 320mm x 285mm x 110mm (B x T x H)
Gewicht 2,4 kg
Lieferumfang ASP Messkopf RMH110
Messkopfprüfer RMH304 (1.0Ω)
Bedienungsanleitung

 

Messbereich & Messgenauigkeit

Stromversorgung
Range 1A 100mA 10mA 1mA 100μA 10μA 1μA 0.1μA
10-4 ±(2.0% + 30dgt)
10-3 ±(2.0% + 20dgt) ±(2.0% + 20dgt)
10-2 ±(1.0% + 5dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
10-1 ±(1.0% + 3dgt) ±(1.0% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
100 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
101 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
102 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
103 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt) ±(2.0% + 20dgt)
104 ±(0.5% + 3dgt) ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 5dgt)
105 ±(0.5% + 3dgt) ±(1.0% + 3dgt)
106 ±(1.0% + 3dgt)
107 ±(2.0% + 5dgt)

Messköpfe

 

BildMesskopfAnwendungPinabstand Pinspitze ØFederdruck Messkopfprüfer
ASP MesskopfASP Messkopf
RMH110
Standardzubehör 5.0 mm 0.37 mm 210 g/pin RMH304
ESP Messkopf für ungleichförmige ProbenESP Messkopf
RMH114
ungleichförmige Proben 5.0 mm 2 mm240 g/pinRMH304
LSP Messkopf für weiche OberflächenLSP Messkopf
RMH116
weiche Oberflächen 5.0 mm 2 mm130 g/pin RMH304
TFP Messkopf für dünne FilmeTFP Messkopf
RMJ217
dünne Filme 1.0 mm0.15 mm50 g/pinRMH312
QPQP2 Messkopf
RMH115
kleinste Proben 1.5 mm 0.26 mm70 g/pin
PSP Messkopf für kleine und dünne ProbenPSP Messkopf
RMH112
kleine & dünne Proben 1.5 mm 0.26 mm70 g/pinRMH311
BSP Messkopf für große ProbenBSP Messkopf
RMH111
große Proben 2.2 mm0.37 mm 210 g/pin
NSCP Messkopf für harte OberflächenNSCP Messkopf
RMJ202
harte Oberflächen
Siliziumwafer
1.0 mm 0.04 mm250 g/pinRMH312

 

UFL Table (RMJ 354)

Isolierender Untergrund für die Hiresta und Loresta Serie mit 2 Wende-Oberflächen (Metalloberfläche / Teflon beschichtete Oberfläche) zur Messung des Volumenwiderstand. Die Metalloberfläche aus Edelstahl dient als zweite Elektrode.

UFL TableUFL TableUFL Table

BildMessungMessgerätMesskopf
Kunststoff mit Aluminium BeschichtungABS Kunststoff mit Aluminium Beschichtung

Messung der elektrischen Leitfähigkeit
Loresta-GXASP Messkopf
Beschichtete Aluminiumfolien

Messung der elektrischen Leitfähigkeit bei unterschiedlichen Beschichtungen
Loresta-GXASP Messkopf
Leitfähige Gummiplatten PVC-Compounds

Messung der elektrischen Leitfähigkeit
Loresta-GXASP Messkopf
KohlenstoffvliesKohlenstofffaser Gewebe

Messung der elektrischen Leitfähigkeit
Loresta-GXASP Messkopf
Gedruckte Leiterbahnen

Messung der elektrischen Leitfähigkeit von gedruckten, elektronischen Leiterbahnen auf Textilgeweben
Loresta-GXLSP Messkopf
PU Klebemasse
Messung der elektrischen Leitfähigkeit einer ausgehärteten Polyurethan Klebemasse
Loresta-GXLSP Messkopf