Loresta-GX Leitfähigkeitsmessgerät Niederohmig

Das Loresta GX  wird zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich eingesetzt.

Messbereich: 10^-4 – 10⁷ Ω x cm.  

Es dient zur Messung im niederohmigen Bereich:

• des spezifischen Flächenwiderstandes (Ω/□)
• des spezifischen Volumenwiderstandes (Ω·cm)
• der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit (S/cm)

Das Messgerät arbeitet nach der 4-Punkt-Messmethode.

Die Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren und wurde entwickelt um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren.

Die Messköpfe bestehen aus vier nadelähnliche Elektroden. Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander.

Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die beiden äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom. Die beiden inneren Elektroden greifen die Spannung an der Oberfläche der Probe ab. Somit kann der elektrische Widerstand bestimmt werden.

Die spezifischen Widerstände ergeben sich durch Anwendung des Korrekturfaktors und Einbeziehung der Dicke der Musterprobe.

Das Loresta-GX verfügt über einen Modus mit dem Messungen von Silizium Wafern möglich sind.

Ein farbiges 7.5“ TFT LC-Touch Display erleichtert das Ablesen der Daten und die Menüführung. Zudem können die Daten über die USB Schnittstelle auf einem PC übertragen werden.

Durch die automatischen Messmodi Auto-Hold und Timer-Modus ist eine komfortable One-Touch Bedienung möglich.

Die angelegte Spannung kann selektiv gewählt werden, so dass auch Messungen von Materialien mit einer geringen Leitfähigkeit möglich sind.

Erhältlich sind verschiedene Typen von Messköpfen, die je nach Beschaffenheit des Messobjektes eingesetzt werden können.

Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle

Für Messungen nach der ASTM D 991, ISO 2878,  ISO 1853, JIS K 7194, JIS R 1637 Norm

• Farben, Pasten, Lacke, Druckerfarbe
• Fasern, Textilien, Smart Textiles
• Kunststoffe, Elektrisch leitfähige Kunststoffe z.B. Polyethylen (PE), Polypropylen (PP)
• Polymere, Gummi, Silikon
• Filmmaterialien
• metallische dünne Filme, metallbedampfte Folien
• Widerstandspasten
• amorphes Silizium / Silizium Wafer
• antistatische Materialien
• EMV-Schirmungsmaterialien
• ITO Glas, beschichtetes Glas
• passivierte Metalle
• Magnesiumlegierungen
• Beschichtetes Blech, Stahl, Aluminium
• Graphite
• etc.

Messbereich & Messgenauigkeit

Messköpfe

Bild	Messkopf	Anwendung	Pinabstand	Pinspitze Ø	Federdruck	Messkopfprüfer
	ASP Messkopf RMH110	Standardzubehör	5.0 mm	0.37 mm	210 g/pin	RMH304
	ESP Messkopf RMH114	ungleichförmige Proben	5.0 mm	2 mm	240 g/pin	RMH304
	LSP Messkopf RMH116	weiche Oberflächen	5.0 mm	2 mm	130 g/pin	RMH304
	TFP Messkopf RMJ217	dünne Filme	1.0 mm	0.15 mm	50 g/pin	RMH312
	QP2 Messkopf RMH115	kleinste Proben	1.5 mm	0.26 mm	70 g/pin
	PSP Messkopf RMH112	kleine & dünne Proben	1.5 mm	0.26 mm	70 g/pin	RMH311
	BSP Messkopf RMH111	große Proben	2.2 mm	0.37 mm	210 g/pin
	NSCP Messkopf RMJ202	harte Oberflächen Siliziumwafer	1.0 mm	0.04 mm	250 g/pin	RMH312

UFL Table (RMJ 354)

Isolierender Untergrund für die Hiresta und Loresta Serie mit 2 Wende-Oberflächen (Metalloberfläche / Teflon beschichtete Oberfläche) zur Messung des Volumenwiderstand. Die Metalloberfläche aus Edelstahl dient als zweite Elektrode.