Das Model LORESTA GX ist ein Echtzeit-Messgerät und wird zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich eingesetzt. Messbereich: 10-4-107Ω x cm.
Das Loresta GX arbeitet nach der 4 – Punkt – Messmethode, welche zur Messung von Widerständen im unteren Widerstandsbereich von 10-4-107Ω x cm verwendet wird. Die Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren und wurde entwickelt um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren.
Vier-Punkt-Messmethode
Bei der Vier-Punkt-Messmethode werden vier nadelähnliche Elektroden auf der Oberfläche einer Probe platziert. Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander. Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die beiden äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom. Die beiden inneren Elektroden, die sich wie eben angedeutet, im Prinzip an einer beliebigen Stelle der Probe befinden können (z.B.: quadratische Anordnung) greifen die Spannung an der Oberfläche der Probe ab. Somit kann der elektrische Widerstand bestimmt werden. Die spezifischen Widerstände ergeben sich durch Anwendung des Korrekturfaktors und Einbeziehung der Dicke der Musterprobe.
Widerstandsmessung
Das LORESTA-GX dient zur Messung des spezifischen Flächenwiderstandes (Ω/□), des spezifischen Volumenwiderstandes (Ω·cm) und der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit (S/cm) im niederohmigen Bereich.
Das Loresta-GX verfügt über einen erweiterten Messbereich von 10-4~107 Ω und besitzt über einen Modus mit dem Messungen von Silizium Wafern möglich sind.
Ein farbiges 7.5“ TFT LC-Touch Display erleichtert das Ablesen der Daten und die Menüführung. Zudem können die Daten über die USB Schnittstelle auf einem PC übertragen werden. Durch die automatischen Messmodi Auto-Hold und Timer-Modus ist eine komfortable One-Touch Bedienung möglich.
Die angelegte Spannung kann selektiv gewählt werden, so dass auch Messungen von Materialien mit einer geringen Leitfähigkeit möglich sind. Erhältlich sind verschiedene Typen von Messköpfen, die je nach Beschaffenheit des Messobjektes eingesetzt werden können.
Einsatzbereich
Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle
Für Messungen nach der ASTM D 991 / ISO 2878 / ISO 1853 / JIS K 7194 / JIS R 1637 Norm
Anwendungsbereiche
- Farben, Pasten, Lacke, Druckerfarbe
- Fasern, Textilien, Smart Textiles
- Kunststoffe, Elektrisch leitfähige Kunststoffe z.B. Polyethylen (PE), Polypropylen (PP)
- Polymere, Gummi, Silikon
- Filmmaterialien
- metallische dünne Filme, metallbedampfte Folien
- Widerstandspasten
- amorphes Silizium / Silizium Wafer
- antistatische Materialien
- EMV-Schirmungsmaterialien
- ITO Glas, beschichtetes Glas
- passivierte Metalle
- Magnesiumlegierungen
- Beschichtetes Blech, Stahl, Aluminium
- Graphite
- etc.
Spezifikationen
| Messmethode | 4-Pin Messkopf, Konstantstrom-Methode |
| Messmodus | Auto-Funktion: Auto-Hold / Timer Mode - Spezieller Silicone Mode |
| Display | 7.5" TFT LC-Touch Display, 640 x 480 Pixel |
| Spannungsversorgung | AC 85-264V / 47-63Hz / 40VA |
| Schnittstelle für Datenausgabe | USB |
| Abmessung | 320mm x 285mm x 110mm (B x T x H) / bei geöffneter Abdeckung: Höhe 220mm |
| Gewicht | 2,4 kg |
| Standardzubehör | ASP Messkopf RMH110 (4-Pin Messkopf, Pinabstand 5mm, Pinspitzenradius 0.37mm), Messkopfprüfer RMH304 (1.0Ω) |
Messbereich & Messgenauigkeit
| Stromversorgung | ||||||||
| Range | 1A | 100mA | 10mA | 1mA | 100μA | 10μA | 1μA | 0.1μA |
| 10-4 | ±(2.0% + 30dgt) | |||||||
| 10-3 | ±(2.0% + 20dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||||
| 10-2 | ±(1.0% + 5dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | |||||
| 10-1 | ±(1.0% + 3dgt) | ±(1.0% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 100 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 101 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 102 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 103 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 104 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | |||||
| 105 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 3dgt) | ||||||
| 106 | ±(1.0% + 3dgt) | |||||||
| 107 | ±(2.0% + 5dgt) |
Zubehör Loresta Serie
| Bild | Messkopf | Anwendung | Pinabstand | Pinspitzenradius | Federdruck | passender Messkopfprüfer |
 | ASP Messkopf RMH110 | Standardzubehör | 5.0 mm | 0.37 mm | 210 g/pin | RMH304 |
 | ESP Messkopf RMH114 | ungleichförmige Proben | 5.0 mm | Pin Ø2 mm | 240 g/pin | RMH304 |
 | LSP Messkopf RMH116 | weiche Oberflächen | 5.0 mm | Pin Ø2 mm | 130 g/pin | RMH304 |
 | TFP Messkopf RMJ217 | dünne Filme | 1.0 mm | 0.15 mm | 50 g/pin | RMH312 |
 | QP2 Messkopf RMH115 | kleinste Proben | 1.5 mm | 0.26 mm | 70 g/pin | |
 | PSP Messkopf RMH112 | kleine & dünne Proben | 1.5 mm | 0.26 mm | 70 g/pin | RMH311 |
 | BSP Messkopf RMH111 | große Proben | 2.2 mm | 0.37 mm | 210 g/pin | |
 | NSCP Messkopf RMJ202 | harte Oberflächen | 1.0 mm | 0.04 mm | 250 g/pin | RMH312 |
UFL Table (RMJ 354)
Isolierender Untergrund für die Hiresta und Loresta Serie mit 2 Wende-Oberflächen (Metalloberfläche / Teflon beschichtete Oberfläche) zur Messung des Volumenwiderstand. Die Metalloberfläche aus Edelstahl dient als zweite Elektrode.
