Zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich
Das Loresta-GX II ist ein hochpräzises Messgerät zur Bestimmung des Widerstands von Leitern und Halbleitern im Bereich von 10-4 – 107 Ω und ist es ideal für die präzise Widerstandsmessungen unterschiedlichster Substanzen und Materialien aller Formen und Größen.

Messbereich und elektrische Kennwerte
Das Messgerät Hiresta-GX II ermöglicht hochpräzise Messungen im niederohmigen Bereich, insbesondere des spezifischen Flächenwiderstands (Ω/□), des spezifischen Volumenwiderstands (Ω·cm) sowie der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit (S/cm).
4-Punkt-Messmethode für präzise Widerstandsmessungen
Das Loresta-GX II arbeitet nach der 4-Punkt-Messmethode, die auf dem Vierleiterverfahren basiert. Diese Methode wurde entwickelt, um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren. Der erste Stromkreis umfasst eine Konstantstromquelle, die durch die Kontaktwiderstände und den gesuchten Widerstand Rx geführt wird. Der zweite Stromkreis enthält eine Spannungsmesseinrichtung mit hohem Innenwiderstand, sodass kein Strom in diesen Kreis gelangt. Dadurch wird die Spannung am Widerstand Rx gemessen, ohne dass Kontaktwiderstände (r1, r2) Einfluss nehmen.
4-Pin Messköpfe
Die Loresta Serie verfügt über 4-Pin Messköpfe, die Leitungs-, Steckverbindungs- und Übergangswiderstände eliminieren. Dies ermöglicht wesentlich präzisere Widerstandsmessungen. Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander. Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom, während die inneren Elektroden die Spannung an der Oberfläche der Probe abgreifen. Dies ermöglicht die Bestimmung des elektrischen Widerstands.
Software: automatischer Korrekturfaktor
Die Software des Messgerätes berechnet den spezifischen Volumenwiderstand und Flächenwiderstand durch die Verwendung eines Korrekturfaktors und der Dicke der Musterprobe. Die Software leitet diesen Faktor durch Eingabe der Messobjekt-Daten, Form (Rechteck oder Scheibe), Abmessungen und Messposition ab.
weitere Ausstattungsextras des Loresta-GX II
- 7.5“ TFT LC-Touch Display: Farbiges Display zur einfachen Datenablesung und Menüführung.
- USB-Schnittstelle: Ermöglicht die Datenübertragung auf einen PC.
- Automatische Messmodi: Auto-Hold und Timer-Modus für eine komfortable One-Touch-Bedienung.
- Selektive Spannungswahl: Ermöglicht Messungen von Materialien mit geringer Leitfähigkeit.
- Spezialmodus für Silizium-Wafer: Besondere Messungen für Silizium-Wafer.
Loresta-GX II oder mobiles Messgerät Loresta-FX?
Lesen Sie unseren Beitrag: Vergleich der Messgeräte Loresta GX und Loresta FX >>
Spezifikationen
| Artikelnummer | Loresta-GX MCP-T700 |
| Messmethode | 4-Punkt-Messmethode, Konstantstrom-Methode |
| Messbereich | 10-4 – 107 Ω x cm |
| Messmodus | Auto-Funktion: Auto-Hold / Timer Mode – Spezieller Silicone Mode |
| Display | 7.5″ TFT LC-Touch Display, 640 x 480 Pixel |
| Spannungsversorgung | AC 85-264V / 47-63Hz / 40VA |
| Schnittstelle für Datenausgabe | USB |
| Abmessung | 320mm x 285mm x 110mm (B x T x H) |
| Gewicht | 2,4 kg |
| Lieferumfang | ASP Messkopf RMH110 Messkopfprüfer RMH304 (1.0Ω) Bedienungsanleitung |
| EC Declaration | Geräte inkl. EC Declaration of Conformity (CE Marking) / UK Declaration of Conformity (DoC): Alle unsere Geräte erfüllen die geltenden europäischen und britischen Normen für Sicherheit und Qualität. |
| Konformitätsnormen | EN 61000-6-3:2007, EN 61000-6-1:2019, EN 61010-1:2010/A1:2019, EN IEC 63000:2018 |
| Gewährleistung | Unsere Geräte sind durch eine 12-monatige Gewährleistung abgesichert. |
Messbereich & Messgenauigkeit
| Stromversorgung | ||||||||
| Range | 1A | 100mA | 10mA | 1mA | 100μA | 10μA | 1μA | 0.1μA |
| 10-4 | ±(2.0% + 30dgt) | |||||||
| 10-3 | ±(2.0% + 20dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||||
| 10-2 | ±(1.0% + 5dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | |||||
| 10-1 | ±(1.0% + 3dgt) | ±(1.0% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 100 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 101 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 102 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 103 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) | ||||
| 104 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | |||||
| 105 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 3dgt) | ||||||
| 106 | ±(1.0% + 3dgt) | |||||||
| 107 | ±(2.0% + 5dgt) |
Leitfähigkeitsmessgerät Loresta-GX II – Typische Anwendungsbereiche
Das Leitfähigkeitsmessgerät Loresta-GX II ist ein hochpräzises Messsystem zur Bestimmung des elektrischen Widerstands und der elektrischen Leitfähigkeit unterschiedlichster Materialien. Es wird insbesondere in Forschung und Entwicklung, der Qualitätssicherung sowie in der Produktionskontrolle eingesetzt, um materialabhängige elektrische Eigenschaften zuverlässig und reproduzierbar zu analysieren.
Dank seines breiten Messbereichs eignet sich das System sowohl für niederohmige Leiter als auch für halbleitende Materialien. Typische Anwendungen umfassen die Charakterisierung von Werkstoffen im Hinblick auf ESD-Verhalten, EMV-Eigenschaften sowie die Optimierung funktionaler Beschichtungen und leitfähiger Compounds.
Die Messungen erfolgen normnah und orientieren sich unter anderem an internationalen Standards wie ASTM D991, ISO 2878, ISO 1853 sowie JIS K7194 und JIS R1637. Dadurch ist eine Vergleichbarkeit der Messergebnisse über verschiedene Anwendungen und Branchen hinweg gewährleistet.
Typische Materialien und Einsatzbereiche sind:
- Farben, Pasten, Lacke und Druckfarben mit leitfähigen Additiven
- Fasern, Textilien und Smart Textiles mit definierten elektrischen Eigenschaften
- Kunststoffe und elektrisch leitfähige Compounds (z. B. PE, PP, Carbon-filled Materialien)
- Elastomere wie Gummi und Silikon mit antistatischen Eigenschaften
- Dünne Filme, Beschichtungen und metallisierte Folien
- Halbleitermaterialien wie Silizium-Wafer und amorphes Silizium
- Widerstandspasten und funktionale Beschichtungen
- Antistatische Materialien und ESD-Schutzkomponenten
- EMV-Abschirmmaterialien und leitfähige Schichten
- ITO-Glas und beschichtete Glasoberflächen
- Metalle und Legierungen, z. B. Magnesium, Stahl oder Aluminium
- Graphit und andere kohlenstoffbasierte Materialien
Das Loresta-GX II kann mit folgendem Zubehör ergänzt werden:
Messköpfe für das Leitfähigkeitsmessgerät Loresta-GX II
Erhältlich sind verschiedene Typen von Messköpfen, die je nach Beschaffenheit des Messobjektes eingesetzt werden können. Die Standardlänge der Messkopfkabel beträgt 1,5m. Die Kabellänge der Messköpfe kann kundenspezifisch angepasst werden. Verfügbare Längen: 3m, 4m, 5m, 7m, 10m
| Bild | Messkopf | Anwendung | Pinabstand | Pinspitze Ø | Federdruck | Messkopfprüfer |
![]() | ASR Messkopf RMH501 | Standardzubehör | 5.0 mm | 0.37 mm | 210 g/pin | RMH304 |
![]() | ESR Messkopf RMH502 | ungleichförmige Proben | 5.0 mm | 2 mm | 240 g/pin | RMH304 |
![]() | LSR Messkopf RMH503 | weiche Oberflächen | 5.0 mm | 2 mm | 130 g/pin | RMH304 |
![]() | QR Messkopf RMH505 | kleinste Proben | 1.5 mm | 0.26 mm | 70 g/pin | RMH313 |
![]() | PSR Messkopf RMH504 | kleine & dünne Proben | 1.5 mm | 0.26 mm | 70 g/pin | RMH311 |
![]() | BSR Messkopf RMH506 | große Proben | 2.2 mm | 0.37 mm | 210 g/pin | |
![]() | NSCR Messkopf RMH507 | harte Oberflächen Siliziumwafer | 1.0 mm | 0.04 mm | 250 g/pin | RMH312 |
Isolierender Untergrund – UFL Table (RMJ 354)
Isolierender Untergrund für die Hiresta und Loresta Serie mit 2 Wende-Oberflächen (Metalloberfläche / Teflon beschichtete Oberfläche) zur Messung des Volumenwiderstand. Die Metalloberfläche aus Edelstahl dient als zweite Elektrode.
Messkopfhalter für QR- und PSR Messkopf

Der neue Messkopfhalter RMJ805 für die QR- und PSR-Messköpfe des Loresta-GX II Leitfähigkeitsmessgeräts wurde speziell entwickelt, um die Präzision und Benutzerfreundlichkeit bei der Messung von kleinen und dünnen Proben zu optimieren. Durch seine robuste Konstruktion und das ergonomische Design gewährleistet der Halter eine stabile Positionierung der Messköpfe, wodurch Messfehler minimiert und die Wiederholgenauigkeit erhöht werden.
Praxisbeispiele zur Widerstands- und Leitfähigkeitsmessung verschiedener Materialien mit dem Leitfähigkeitsmessgerät Loresta-GX II
Weitere Anwendungsbeispiele aus der Praxis
- Entwicklung leitfähiger Kunststoffe für ESD-Anwendungen
Bei der Formulierung von Kunststoffen mit elektrisch leitfähigen Additiven (z. B. Ruß, Graphen, CNTs) wird mit dem Loresta-GX II der Flächenwiderstand in Ω/□ ermittelt, um sicherzustellen, dass das Material antistatische Eigenschaften erfüllt (typischer Zielbereich: 10⁵–10⁹ Ω/□). - Optimierung von Beschichtungsprozessen in der Halbleiterfertigung
Dünne leitfähige Schichten (z. B. ITO, PEDOT:PSS) werden auf ihre Homogenität und Leitfähigkeit geprüft. Mit dem Gerät kann punktuell oder flächendeckend der spezifische Widerstand gemessen und die Prozessparameter angepasst werden. - Evaluierung von leitfähigen Druckpasten und Tinten
Bei gedruckter Elektronik (z. B. für flexible Displays oder RFID-Tags) wird mit dem Gerät der elektrische Durchgangswiderstand gemessen, um die Funktionalität sicherzustellen und verschiedene Rezepturen zu vergleichen. - Materialcharakterisierung für Brennstoffzellen oder Superkondensatoren
Elektrodenmaterialien mit hohem Leitfähigkeitsanspruch (S/cm-Bereich) werden präzise vermessen, um Leistungsdaten wie Innenwiderstand und Stromdichtefähigkeit zu optimieren.







