Das mobile Hand-Messgerät Loresta AX wird zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich eingesetzt.
Messbereich: 10-2 – 106 Ω.
Es eignet sich zur einfachen Prozess- bzw. Qualitätskontrolle.
Zur Bestimmung der spezifischen Widerstände wird ein manuell einstellbarer Korrekturfaktor verwendet, der eine für die Prozess- bzw. Qualitätskontrolle hinreichend genaue Berechnung erlaubt.
Das Messgerät arbeitet nach der 4-Punkt-Messmethode. Die Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren und wurde entwickelt um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren.
Die Loresta-Serie bietet eine Auswahl an 4-Pin Messköpfen für verschiedenste Anwendungen, beispielsweise sehr kleine Proben oder dünne Filme. Die Messköpfe bestehen aus vier nadelähnliche Elektroden. Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander.
Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die beiden äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom. Die beiden inneren Elektroden greifen die Spannung an der Oberfläche der Probe ab. Somit kann der elektrische Widerstand bestimmt werden.
Bis zu 1000 Messergebnisse werden automatisch gespeichert und können via USB-Stick transportiert werden.
Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle
Leitfähige Materialien:
- Farben, Pasten, Lacke
- Kunststoffe, Gummi
- Gewebe, Fasern
- Filmmaterialien, Folien
- Keramik
- metallische dünne Filme
- amorphes Silizium
- antistatische Materialien
- EMV-Bleche/ Materialien
- ITO Glas, beschichtetes Glas
- beschichtete Materialien, Magnesiumlegierungen, verzinkte Stahlplatten
| Artikelnummer | Loresta-AX MCP-T370 |
| Messmethode | 4-Pin Messkopf, Konstantstrom-Methode |
| Messbereich | 10-2 - 106 |
| Display | LCD |
| Spannungsversorgung | AC 90-264V / 47-63Hz / Nickel-Hydrogen Battery |
| Schnittstelle für Datenausgabe | USB |
| Abmessung | 85mm x 228mm x 65mm |
| Gewicht | 0,4 kg |
| Standardzubehör | ASP Messkopf RMH110 |
| Anleitung |
Messbereich
| Messbereich [Ω] | 10 -2 | 10 -1 | 10 0 | 10 1 | 10 2 | 10 3 | 10 4 | 10 5 | 10 6 |
| Strom | 100mA | 100mA | 10mA | 10mA | 1mA | 1mA | 100μA | 10μA | 1μA |
| Messgenauigkeit | ± 1.0% ± 20dgt. | ± 1.0% ± 5dgt. | ± 0.5% ± 5dgt. | ± 0.5% ± 3dgt. | ± 0.5% ± 3dgt. | ± 0.5% ± 3dgt. | ± 0.5% ± 3dgt. | ± 0.5% ± 3dgt. | ± 2.0% ± 5dgt. |
Messköpfe
| Bild | Messkopf | Anwendung | Pinabstand | Pinspitze Ø | Federdruck | Messkopfprüfer |
 | ASP Messkopf RMH110 | Standardzubehör | 5.0 mm | 0.37 mm | 210 g/pin | RMH304 |
 | ESP Messkopf RMH114 | ungleichförmige Proben | 5.0 mm | 2 mm | 240 g/pin | RMH304 |
 | LSP Messkopf RMH116 | weiche Oberflächen | 5.0 mm | 2 mm | 130 g/pin | RMH304 |
 | TFP Messkopf RMJ217 -aktuell nicht lieferbar- | dünne Filme | 1.0 mm | 0.15 mm | 50 g/pin | RMH312 |
 | QP2 Messkopf RMH115 | kleinste Proben | 1.5 mm | 0.26 mm | 70 g/pin | |
 | PSP Messkopf RMH112 | kleine & dünne Proben | 1.5 mm | 0.26 mm | 70 g/pin | RMH311 |
 | BSP Messkopf RMH111 | große Proben | 2.2 mm | 0.37 mm | 210 g/pin | |
 | NSCP Messkopf RMJ202 | harte Oberflächen Siliziumwafer | 1.0 mm | 0.04 mm | 250 g/pin | RMH312 |